Venkatapathi N. Rayapati, Bożena Kamińska
Communication écrite (1994)
Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing
Lieu de la conférence:
San Jose, CA, USA
Date(s) de la conférence:
1994-08-08 - 1994-08-09
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:32925
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:25
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:20
Citer en APA 7:
Rayapati, V. N., & Kamińska, B. (août 1994). Mega bit CMOS SRAM chip failure analysis using external electrical testing and internal contactless laser beam testing [Communication écrite]. IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing, San Jose, CA, USA. https://doi.org/10.1109/mtdt.1994.397200
Statistiques
Dimensions
