Ewa Sokolowska, Bożena Kamińska
Communication écrite (1994)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
1994 IEEE International Test Conference
Lieu de la conférence:
Washington, DC, USA
Date(s) de la conférence:
1994-10-02 - 1994-10-06
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:32841
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:25
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:20
Citer en APA 7:
Sokolowska, E., & Kamińska, B. (octobre 1994). Application of optoelectronic techniques to high speed testing [Communication écrite]. 1994 IEEE International Test Conference, Washington, DC, USA. https://doi.org/10.1109/test.1994.528017
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