Naim Ben Hamida, Bożena Kamińska
Article de revue (1993)
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Mots clés
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Titre de la revue
:
Analog Integrated Circuits and Signal Processing
(
vol.
4
,
no
3
)
Maison d'édition:
Springer Science+Business Media
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:69482
ORCID
Date du dépôt:
26 nov. 2025 16:15
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:30
Citer en APA 7:
Ben Hamida, N., & Kamińska, B. (1993). Multiple fault analog circuit testing by sensitivity analysis. Analog Integrated Circuits and Signal Processing, 4(3), 231-243. https://doi.org/10.1007/bf01239076
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