A functional-level testability evaluation using a new M-testability approach

Mohamed Jamoussi et Bożena Kamińska

Communication écrite (1993)

Un lien externe est disponible pour ce document

Département:	Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel
ISBN:	0780312813
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/75246/
Nom de la conférence:	IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1993)
Lieu de la conférence:	Chicago, IL, USA
Date(s) de la conférence:	1993-05-03 - 1993-05-06
Maison d'édition:	Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:	10.1109/iscas.1993.394047
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/iscas.1993.394047
Date du dépôt:	06 mai 2026 14:45
Dernière modification:	06 mai 2026 14:45

Citer en APA 7:	Jamoussi, M., & Kamińska, B. (mai 1993). A functional-level testability evaluation using a new M-testability approach [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1993), Chicago, IL, USA. https://doi.org/10.1109/iscas.1993.394047
APA 7 (HTML)ASCII CitationAtomBibTeXDOIsDublin CoreEndNote (.ENW)MARC (ISO 2709/UTF-8) (.MRC)MARC (UTF-8) (.MRK8)MARC XMLMPEG-21 DIDLMultiline CSVOAI-ORE Resource Map (Atom Format)OPENAIREOpenURL ContextObjectOpenURL ContextObject in SpanRDF+N-TriplesRDF+N3RDF+XMLReferReference Manager (.RIS)Simple Metadata

Statistiques

Actions réservées au personnel