Mohamed Jamoussi, Bożena Kamińska
Communication écrite (1993)
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Mots clés
ISBN:
0780312813
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1993)
Lieu de la conférence:
Chicago, IL, USA
Date(s) de la conférence:
1993-05-03 - 1993-05-06
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:75246
ORCID
Date du dépôt:
06 mai 2026 14:45
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:36
Citer en APA 7:
Jamoussi, M., & Kamińska, B. (mai 1993). A functional-level testability evaluation using a new M-testability approach [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1993), Chicago, IL, USA. https://doi.org/10.1109/iscas.1993.394047
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