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Nuage de motsUn nuage de mots est une représentation visuelle des mots les plus fréquemment utilisés dans un texte ou un ensemble de textes. Les mots apparaissent dans différentes tailles, la taille de chaque mot étant proportionnelle à sa fréquence d'apparition dans le texte. Plus un mot est utilisé fréquemment, plus il apparaît en grand dans le nuage de mots. Cette technique permet de visualiser rapidement les thèmes et les concepts les plus importants d'un texte.
Dans le contexte de cette page, le nuage de mots a été généré à partir des publications de l'auteur {}. Les mots présents dans ce nuage proviennent des titres, résumés et mots-clés des articles et travaux de recherche de cet auteur. En analysant ce nuage de mots, vous pouvez obtenir un aperçu des sujets et des domaines de recherche les plus récurrents et significatifs dans les travaux de cet auteur.Le nuage de mots est un outil utile pour identifier les tendances et les thèmes principaux dans un corpus de textes, facilitant ainsi la compréhension et l'analyse des contenus de manière visuelle et intuitive.
Ammar, M., Hamad, G. B., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (2019). System-Level Modeling and Analysis of the Vulnerability of a Processor to Single-Event Upsets (SEUs). Dans Velazco, R., McMorrow, D., & Estela, J. (édit.), Radiation Effects on Integrated Circuits and Systems for Space Applications (p. 13-38). Lien externe
Ammar, M., Bany Hamad, G., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (décembre 2018). Reliability Analysis of the SPARC V8 Architecture via Fault Trees and UPPAL-SMC [Communication écrite]. 25th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2018), Bordeaux, France. Lien externe
Bany Hamad, G., Ammar, M., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (septembre 2018). System-Level Characterization, Modeling, and Probabilistic Formal Analysis of LEON3 Vulnerability to Transient Faults [Communication écrite]. 18th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS 2018), Piscataway, NJ, USA (4 pages). Lien externe
Kazma, G., Bany Hamad, G., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (mai 2017). Analysis of SEU Propagation in Combinational Circuits at RTL Based on Satisfiability Modulo Theories [Communication écrite]. Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI 2017), Banff, Alberta. Lien externe
Bany Hamad, G., Kazma, G., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (juillet 2017). Comprehensive analysis of sequential circuits vulnerability to transient faults using SMT [Communication écrite]. 23rd IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2017), Thessaloniki, Greece. Lien externe
Ammar, M., Bany Hamad, G., Mohamed, O. A.̈., Savaria, Y., & Velazco, R. (septembre 2016). Comprehensive vulnerability analysis of systems exposed to SEUs via probabilistic model checking [Communication écrite]. 16th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS 2016), Bremen, Germany (4 pages). Lien externe
Bany Hamad, G., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (septembre 2016). Investigating the efficiency of cell level hardening techniques of single event transients via SMT [Communication écrite]. 16th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS 2016), Bremen, Germany (4 pages). Lien externe
Hoque, K. A., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (avril 2016). Applying formal verification to early assessment of FPGA-based aerospace applications: Methodology and experience [Communication écrite]. Annual IEEE Systems Conference (SysCon 2016), Orlando, Flordia (6 pages). Lien externe
Bany Hamad, G., Kazma, G., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (septembre 2016). Comprehensive non-functional analysis of combinational circuits vulnerability to single event transients [Communication écrite]. Forum on Specification and Design Languages (FDL 2016), Bremen, Germany (7 pages). Lien externe
Bany Hamad, G., Kazma, G., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (novembre 2016). Efficient and accurate analysis of single event transients propagation using SMT-based techniques [Communication écrite]. 35th International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD 2016), Austin, TX (7 pages). Lien externe
Ammar, M., Bany Hamad, G., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (septembre 2016). Efficient probabilistic fault tree analysis of safety critical systems via probabilistic model checking [Communication écrite]. Forum on Specification and Design Languages (FDL 2016), Bremen, Germany (8 pages). Lien externe
Bany Hamad, G., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (mai 2016). Towards formal abstraction, modeling, and analysis of single event transients at RTL [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2016), Montréal, Québec. Lien externe
Hoque, K. A., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (mars 2015). Towards an accurate reliability, availability and maintainability analysis approach for satellite systems based on probabilistic model checking [Communication écrite]. Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 2015), Grenoble, France. Lien externe
Bany Hamad, G., Hasan, S. R., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (juin 2014). Abstracting Single Event Transient characteristics variations due to input patterns and fan-out [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2014), Melbourne, VIC, Australia (4 pages). Lien externe
Bany Hamad, G., Hasan, S. R., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (août 2014). Modeling, analyzing, and abstracting single event transient propagation at gate level [Communication écrite]. IEEE 57th International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS 2014), College Station, TX, USA. Lien externe
Hoque, K. A., Mohamed, O. A.̈., Savaria, Y., & Thibeault, C. (octobre 2014). Probabilistic model checking based DAL analysis to optimize a combined TMR-blind-scrubbing mitigation technique for FPGA-based aerospace applications [Communication écrite]. 12th ACM/IEEE International Conference on Methods and Models for System Design (MEMOCODE 2014), Lausanne, Switzerland. Lien externe
Bany Hamad, G., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (décembre 2014). Probabilistic model checking of single event transient propagation at RTL level [Communication écrite]. 21st IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2014), Marseille, France. Lien externe
Bany Hamad, G., Hasan, S. R., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (septembre 2013). Investigating the impact of propagation paths and re-convergent paths on the propagation induced pulse broadening [Communication écrite]. 14th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS 2013), Oxford, United kingdom (4 pages). Lien externe
Bany Hamad, G., Mohamed, O. A.̈., Hasan, S. R., & Savaria, Y. (décembre 2011). SEGP-finder: Tool for identification of soft error glitch-propagating paths at gate level [Communication écrite]. 18th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2011), Beirut, Lebanon. Lien externe
