Ghaith Bany Hamad, Ghaith Kazma, Otmane Aı̈t Mohamed, Yvon Savaria
Communication écrite (2017)
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Département:
Unité de recherche:
ISBN:
9781538603529
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
23rd IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2017)
Lieu de la conférence:
Thessaloniki, Greece
Date(s) de la conférence:
2017-07-03 - 2017-07-05
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:38639
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:04
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:30
Citer en APA 7:
Bany Hamad, G., Kazma, G., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (juillet 2017). Comprehensive analysis of sequential circuits vulnerability to transient faults using SMT [Communication écrite]. 23rd IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2017), Thessaloniki, Greece. https://doi.org/10.1109/iolts.2017.8046195
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