Documents dont l'auteur est "Kazma, Ghaith"

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B

Bany Hamad, G., Kazma, G., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (juillet 2017). Comprehensive analysis of sequential circuits vulnerability to transient faults using SMT [Communication écrite]. 23rd IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2017), Thessaloniki, Greece. Lien externe

Bany Hamad, G., Kazma, G., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (septembre 2016). Comprehensive non-functional analysis of combinational circuits vulnerability to single event transients [Communication écrite]. Forum on Specification and Design Languages (FDL 2016), Bremen, Germany (7 pages). Lien externe

Bany Hamad, G., Kazma, G., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (novembre 2016). Efficient and accurate analysis of single event transients propagation using SMT-based techniques [Communication écrite]. 35th International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD 2016), Austin, TX (7 pages). Lien externe

K

Kazma, G., Bany Hamad, G., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (mai 2017). Analysis of SEU Propagation in Combinational Circuits at RTL Based on Satisfiability Modulo Theories [Communication écrite]. Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI 2017), Banff, Alberta. Lien externe

Kazma, G., Bany Hamad, G., Ait Mohamed, O., & Savaria, Y. (juin 2017). Analysis of SEU propagation in sequential circuits at RTL using Satisfiability Modulo Theories [Communication écrite]. 15th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2017), Strasbourg, France. Lien externe

Kazma, G., Bany Hamad, G., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (décembre 2016). Investigating the efficiency and accuracy of a data type reduction technique for soft error analysis [Communication écrite]. IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2016), Monte Carlo, Monaco. Lien externe