Ghaith Bany Hamad, Ghaith Kazma, Otmane Aı̈t Mohamed, Yvon Savaria
Communication écrite (2016)
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Département:
Unité de recherche:
ISBN:
9791092279177
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
Forum on Specification and Design Languages (FDL 2016)
Lieu de la conférence:
Bremen, Germany
Date(s) de la conférence:
2016-09-14 - 2016-09-16
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:36967
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:05
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:27
Citer en APA 7:
Bany Hamad, G., Kazma, G., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (septembre 2016). Comprehensive non-functional analysis of combinational circuits vulnerability to single event transients [Communication écrite]. Forum on Specification and Design Languages (FDL 2016), Bremen, Germany (7 pages). https://doi.org/10.1109/fdl.2016.7880371
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