Ghaith Kazma, Ghaith Bany Hamad, Otmane Ait Mohamed et Yvon Savaria
Communication écrite (2017)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie électrique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/36982/ |
Nom de la conférence: | Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI 2017) |
Lieu de la conférence: | Banff, Alberta |
Date(s) de la conférence: | 2017-05-10 - 2017-05-12 |
Maison d'édition: | Association for Computing Machinery |
DOI: | 10.1145/3060403.3060438 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1145/3060403.3060438 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:04 |
Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:30 |
Citer en APA 7: | Kazma, G., Hamad, G. B., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (mai 2017). Analysis of SEU Propagation in Combinational Circuits at RTL Based on Satisfiability Modulo Theories [Communication écrite]. Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI 2017), Banff, Alberta. https://doi.org/10.1145/3060403.3060438 |
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