Ghaith Bany Hamad, Otmane Ait Mohamed, Syed Rafay Hasan et Yvon Savaria
Communication écrite (2011)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/39551/ |
| Nom de la conférence: | 18th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2011) |
| Lieu de la conférence: | Beirut, Lebanon |
| Date(s) de la conférence: | 2011-12-11 - 2011-12-14 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/icecs.2011.6122287 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/icecs.2011.6122287 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:11 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:35 |
| Citer en APA 7: | Bany Hamad, G., Mohamed, O. A., Hasan, S. R., & Savaria, Y. (décembre 2011). SEGP-finder: Tool for identification of soft error glitch-propagating paths at gate level [Communication écrite]. 18th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2011), Beirut, Lebanon. https://doi.org/10.1109/icecs.2011.6122287 |
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