Ghaith Bany Hamad, Marwan Ammar, Otmane Aı̈t Mohamed, Yvon Savaria
Communication écrite (2018)
Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Département:
Unité de recherche:
ISBN:
9781728102160
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
18th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS 2018)
Lieu de la conférence:
Piscataway, NJ, USA
Date(s) de la conférence:
2018-09-16 - 2018-09-21
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:47717
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:03
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:02
Citer en APA 7:
Bany Hamad, G., Ammar, M., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (septembre 2018). System-Level Characterization, Modeling, and Probabilistic Formal Analysis of LEON3 Vulnerability to Transient Faults [Communication écrite]. 18th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS 2018), Piscataway, NJ, USA (4 pages). https://doi.org/10.1109/radecs45761.2018.9328702
Statistiques
Dimensions
