Marwan Ammar, Ghaith Bany Hamad, Otmane Aı̈t Mohamed, Yvon Savaria
Chapitre de livre (2019)
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9783030046606
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Springer eBooks
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Springer Nature
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Date du dépôt:
17 déc. 2024 12:06
Dernière modification:
13 oct. 2026 15:08
Citer en APA 7:
Ammar, M., Hamad, G. B., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (2019). System-Level Modeling and Analysis of the Vulnerability of a Processor to Single-Event Upsets (SEUs). Dans Velazco, R., McMorrow, D., & Estela, J. (édit.), Radiation Effects on Integrated Circuits and Systems for Space Applications (p. 13-38). https://doi.org/10.1007/978-3-030-04660-6_2
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