Marwan Ammar, Ghaith Bany Hamad, Otmane Aı̈t Mohamed, Yvon Savaria
, Raoul Velazco
Communication écrite (2016)
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Département:
Unité de recherche:
ISBN:
9781509043668
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
16th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS 2016)
Lieu de la conférence:
Bremen, Germany
Date(s) de la conférence:
2016-09-19 - 2016-09-23
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:39527
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:03
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:31
Citer en APA 7:
Ammar, M., Bany Hamad, G., Mohamed, O. A.̈., Savaria, Y., & Velazco, R. (septembre 2016). Comprehensive vulnerability analysis of systems exposed to SEUs via probabilistic model checking [Communication écrite]. 16th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS 2016), Bremen, Germany (4 pages). https://doi.org/10.1109/radecs.2016.8093191
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