M. Ammar, G. B. Hamad, O. A. Mohamed et Yvon Savaria
Communication écrite (2016)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie électrique |
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Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/36849/ |
Nom de la conférence: | Forum on Specification and Design Languages (FDL 2016) |
Lieu de la conférence: | Bremen, Germany |
Date(s) de la conférence: | 2016-09-14 - 2016-09-16 |
Maison d'édition: | IEEE |
DOI: | 10.1109/fdl.2016.7880373 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1109/fdl.2016.7880373 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:05 |
Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:30 |
Citer en APA 7: | Ammar, M., Hamad, G. B., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (septembre 2016). Efficient probabilistic fault tree analysis of safety critical systems via probabilistic model checking [Communication écrite]. Forum on Specification and Design Languages (FDL 2016), Bremen, Germany (8 pages). https://doi.org/10.1109/fdl.2016.7880373 |
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