Efficient probabilistic fault tree analysis of safety critical systems via probabilistic model checking

Ammar, Marwan; Bany Hamad, Ghaith; Mohamed, Otmane Aı̈t; Savaria, Yvon; Ammar, Marwan; Bany Hamad, Ghaith; Mohamed, Otmane Aı̈t; Savaria, Yvon

Efficient probabilistic fault tree analysis of safety critical systems via probabilistic model checking

Marwan Ammar, Ghaith Bany Hamad, Otmane Aı̈t Mohamed, Yvon Savaria

Communication écrite (2016)

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Département:

Département de génie électrique

Unité de recherche:

GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes

ISBN:

9791092279177

Adresse URL de PolyPublie:

https://publications.polymtl.ca/36849/

Nom de la conférence:

Forum on Specification and Design Languages (FDL 2016)

Lieu de la conférence:

Bremen, Germany

Date(s) de la conférence:

2016-09-14 - 2016-09-16

Maison d'édition:

IEEE

DOI:

10.1109/fdl.2016.7880373

URL officielle:

https://doi.org/10.1109/fdl.2016.7880373

OAI:

oai:publications.polymtl.ca:36849

ORCID

Date du dépôt:

18 avr. 2023 15:05

Dernière modification:

14 oct. 2026 13:27

Citer en APA 7:

Ammar, M., Bany Hamad, G., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (septembre 2016). Efficient probabilistic fault tree analysis of safety critical systems via probabilistic model checking [Communication écrite]. Forum on Specification and Design Languages (FDL 2016), Bremen, Germany (8 pages). https://doi.org/10.1109/fdl.2016.7880373

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