Ghaith Bany Hamad, Otmane Aı̈t Mohamed, Yvon Savaria
Communication écrite (2014)
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Département:
Unité de recherche:
ISBN:
9781479942428
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
21st IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2014)
Lieu de la conférence:
Marseille, France
Date(s) de la conférence:
2014-12-07 - 2014-12-10
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:12226
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:08
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:12
Citer en APA 7:
Bany Hamad, G., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (décembre 2014). Probabilistic model checking of single event transient propagation at RTL level [Communication écrite]. 21st IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2014), Marseille, France. https://doi.org/10.1109/icecs.2014.7050019
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