Ghaith Bany Hamad, Otmane Ait Mohamed et Yvon Savaria
Communication écrite (2014)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/12226/ |
| Nom de la conférence: | 21st IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2014) |
| Lieu de la conférence: | Marseille, France |
| Date(s) de la conférence: | 2014-12-07 - 2014-12-10 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/icecs.2014.7050019 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/icecs.2014.7050019 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:08 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 10:51 |
| Citer en APA 7: | Hamad, G. B., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (décembre 2014). Probabilistic model checking of single event transient propagation at RTL level [Communication écrite]. 21st IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2014), Marseille, France. https://doi.org/10.1109/icecs.2014.7050019 |
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