Marwan Ammar, Ghaith Bany Hamad, Otmane Aı̈t Mohamed, Yvon Savaria
Communication écrite (2018)
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Département:
Unité de recherche:
ISBN:
9781538695623
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
25th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2018)
Lieu de la conférence:
Bordeaux, France
Date(s) de la conférence:
2018-12-09 - 2018-12-12
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:42763
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:02
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:54
Citer en APA 7:
Ammar, M., Bany Hamad, G., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (décembre 2018). Reliability Analysis of the SPARC V8 Architecture via Fault Trees and UPPAL-SMC [Communication écrite]. 25th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2018), Bordeaux, France. https://doi.org/10.1109/icecs.2018.8617845
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