Ghaith Bany Hamad, Syed Rafay Hasan, Otmane Ait Mohamed et Yvon Savaria
Communication écrite (2014)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/52734/ |
| Nom de la conférence: | IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2014) |
| Lieu de la conférence: | Melbourne, VIC, Australia |
| Date(s) de la conférence: | 2014-06-01 - 2014-06-05 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/iscas.2014.6865423 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/iscas.2014.6865423 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:08 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:57 |
| Citer en APA 7: | Hamad, G. B., Hasan, S. R., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (juin 2014). Abstracting Single Event Transient characteristics variations due to input patterns and fan-out [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2014), Melbourne, VIC, Australia (4 pages). https://doi.org/10.1109/iscas.2014.6865423 |
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