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Nuage de motsUn nuage de mots est une représentation visuelle des mots les plus fréquemment utilisés dans un texte ou un ensemble de textes. Les mots apparaissent dans différentes tailles, la taille de chaque mot étant proportionnelle à sa fréquence d'apparition dans le texte. Plus un mot est utilisé fréquemment, plus il apparaît en grand dans le nuage de mots. Cette technique permet de visualiser rapidement les thèmes et les concepts les plus importants d'un texte.
Dans le contexte de cette page, le nuage de mots a été généré à partir des publications de l'auteur {}. Les mots présents dans ce nuage proviennent des titres, résumés et mots-clés des articles et travaux de recherche de cet auteur. En analysant ce nuage de mots, vous pouvez obtenir un aperçu des sujets et des domaines de recherche les plus récurrents et significatifs dans les travaux de cet auteur.Le nuage de mots est un outil utile pour identifier les tendances et les thèmes principaux dans un corpus de textes, facilitant ainsi la compréhension et l'analyse des contenus de manière visuelle et intuitive.
Singh, R., Audet, Y., Gagnon, Y., Savaria, Y., Boulais, E., & Meunier, M. (2011). A laser-trimmed rail-to-rail precision CMOS operational amplifier. IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, 58(2), 75-79. Lien externe
Marche, D., Savaria, Y., & Gagnon, Y. (2008). Laser Fine-Tuneable Deep-Submicrometer Cmos 14-Bit Dac. IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, 55(8), 2157-2165. Lien externe
Turcotte, D., Ouellette, C., Gagnon, Y., Posada, É., Bourgault, M., & Nollet, J. (2003). Ministère de la Santé et des Services sociaux du Québec : Acquisition d'un système de télécommunications. Revue internationale de cas en gestion, 1(1), 1-7. Lien externe
Singh, R., Audet, Y., Gagnon, Y., & Savaria, Y. (mai 2007). Integrated circuit trimming technique for offset reduction in a precision CMOS amplifier [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2007), New Orleans, LA, USA. Lien externe
Binet, V., Savaria, Y., Meunier, M., & Gagnon, Y. (mai 2007). Modeling the substrate noise injected by a DC-DC converter [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2007), Phoenix-Scottsdale, AZ. Lien externe
Meunier, M., Gagnon, Y., Lacourse, A., Ducharme, M., Rioux, S., & Savaria, Y. (mai 2007). Precision resistor laser trimming for analog microelectronics [Communication écrite]. Photonic Applications Systems Technologies Conference, Baltimore, Maryland, USA. Lien externe
Rioux, S., Lacourse, A., Ducharme, M., Gagnon, Y., Savaria, Y., & Meunier, M. (mai 2005). Design methods for CMOS low-current finely tunable voltage references covering a wide output range [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2005), Japon. Lien externe
Marche, D., Savaria, Y., & Gagnon, Y. (mai 2005). A New Switch Compensation Technique for Inverted R-2r Ladder Dacs [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2005), Kobe, Japan. Lien externe
Meunier, M., Cadotte, M., Ducharme, M., Gagnon, Y., & Lacourse, A. (janvier 2002). Laser induced diffusible resistance: device characterization and process modeling [Communication écrite]. Photon Processing in Microelectronics and Photonics, San Jose, Ca., USA. Lien externe
Meunier, M., Gagnon, Y., Savaria, Y., Lacourse, A., & Cadotte, M. (juin 2001). A novel laser trimming technique for microelectronics [Communication écrite]. European Materials Research Society 2001-Symposium L "Photon-Induced Surface Processing", Strasbourg, France. Publié dans Applied Surface Science, 186(1-4). Lien externe
Meunier, M., Gagnon, Y., Savaria, Y., Lacourse, A., & Cadotte, M. A novel laser trimming technique for microelectronics [Communication écrite]. 6th Conference on Laser Applications in Microelectronic and Optoelectronic Manufacturing (LAMOM 2001). Lien externe
Gagnon, Y., Savaria, Y., Meunier, M., & Thibeault, C. (octobre 1997). Are defect-tolerant circuits with redundancy really cost-effective? Complete and realistic cost model [Communication écrite]. IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1997), Paris, Fr. Lien externe
Lacourse, A., Ducharme, M., St-Jean, H., Gagnon, Y., Savaria, Y., & Meunier, M. (2009). Tunable semiconductor component provided with a current barrier. (Brevet no US7564078). Lien externe
Gagnon, Y., Meunier, M., & Savaria, Y. (2001). Method and apparatus for iteratively, selectively tuning the impedance of integrated semiconductor devices using a focussed heating source. (Brevet no US6329272). Lien externe
