Yves Gagnon, Yvon Savaria
, Michel Meunier, Claude Thibeault
Communication écrite (1997)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1997)
Lieu de la conférence:
Paris, Fr
Date(s) de la conférence:
1997-10-20 - 1997-10-22
Maison d'édition:
IEEE Comp Soc
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:30459
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:23
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:17
Citer en APA 7:
Gagnon, Y., Savaria, Y., Meunier, M., & Thibeault, C. (octobre 1997). Are defect-tolerant circuits with redundancy really cost-effective? Complete and realistic cost model [Communication écrite]. IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1997), Paris, Fr. https://doi.org/10.1109/dftvs.1997.628321
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