Yves Gagnon, Michel Meunier
, Yvon Savaria
Brevet (2001)
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Autres numéros: CA2277607, CA2671386, EP1188178, WO2000077836 (demande)
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ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:21
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:03
Citer en APA 7:
Gagnon, Y., Meunier, M., & Savaria, Y. (2001). Method and apparatus for iteratively, selectively tuning the impedance of integrated semiconductor devices using a focussed heating source. (Brevet no US6329272). https://patents.google.com/patent/US6329272
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