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Grilli, M. L., Vernhes, R., Di Sarcina, I., Martinu, L., & Piegari, A. (juin 2016). Optical and electrical characteristics of transparent and highly conductive ultrathin nickel films [Communication écrite]. Optical Interference Coatings (OIC 2016), Tucson, AZ, United states. Lien externe
Vernhes, R., & Martinu, L. (2015). TRACK - A new method for the evaluation of low-level extinction coefficient in optical films. Optics Express, 23(22), 28501-28521. Lien externe
Hála, M., Vernhes, R., Zabeida, O., Bousser, E., Sapieha, J.-E., Sargent, R., & Martinu, L. (2014). Growth and properties of high index Ta₂O₅ optical coatings prepared by HiPIMS and other methods. Surface and Coatings Technology, 241(C), 33-37. Lien externe
Hala, M., Vernhes, R., Zabeida, O., Sapieha, J.-E., & Martinu, L. (2014). Reactive HiPIMS deposition of SiO₂/Ta₂O₅ optical interference filters. Journal of Applied Physics, 116(21), 213302-213302. Lien externe
Vernhes, R., Sapieha, J.-E., & Martinu, L. (2013). Fabrication and testing of nanoporous Si₃N₄ optical filters for gas sensing applications. Sensors and Actuators B: Chemical, 185, 504-511. Lien externe
Creatore, M., Rieter, S. M., Barrell, Y., Van De Sanden, M. C. M., Vernhes, R., & Martinu, L. (2008). Optical and Chemical Characterization of Expanding Thermal Plasma-Deposited Carbon-Containing Silicon Dioxide-Like Films. Thin Solid Films, 516(23), 8547-8553. Lien externe
Vernhes, R., Amassian, A., Sapieha, J.-E., & Martinu, L. (2006). Plasma treatment of porous SiNₓ:H films for the fabrication of porous-dense multilayer optical filters with tailored interfaces. Journal of Applied Physics, 99(11), 114315.1-114315.12. Lien externe
Vernhes, R., Zabeida, O., Sapieha, J.-E., & Martinu, L. (2006). Pulsed radio frequency plasma deposition of a-SiNₓ:H alloys: film properties, growth mechanism, and applications. Journal of Applied Physics, 100(6), 63308-1. Lien externe
Amassian, A., Vernhes, R., Sapieha, J.-E., Desjardins, P., & Martinu, L. (janvier 2004). Interface engineering of porous/dense multilayers of SiN1.3: in situ real-time spectroscopic ellipsometry study [Communication écrite]. 47th Society of Vacuum Coaters Technical Conference. Lien externe
Amassian, A., Larouche, S., Vernhes, R., Sapieha, J.-E., Desjardins, P., & Martinu, L. (mai 2002). Analysis and control of optical film growth by in situ real-time spectroscopic ellipsometry [Communication écrite]. SPIE Regional Meeting on Optoelectronics, Photonics, and Imaging (Opto Canada 2002), Ottawa, Ont., Can.. Lien externe