Monter d'un niveau |
Dennler, G., Houdayer, A., Raynaud, P., Ségui, Y., & Wertheimer, M. R. (2002). Capabilities and Limitations of RBS to Characterize Hyper-Thin Silicon Compound Layers on Various Polymeric Substrates. Dans Sacher, E. (édit.), Metallization of Polymers 2 (153-163). Lien externe