G. Dennler, A. Houdayer, P. Raynaud, Y. Ségui, Michael R. Wertheimer
Article de revue (2002)
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Titre de la revue
:
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B, Beam Interactions With Materials and Atoms
(
vol.
192
,
no
4
)
Maison d'édition:
Elsevier
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:26700
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:20
Dernière modification:
08 oct. 2026 17:29
Citer en APA 7:
Dennler, G., Houdayer, A., Raynaud, P., Ségui, Y., & Wertheimer, M. R. (2002). Characterization by RbS of Hyper-Thin SiO₂ Layers on Various Polymers. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B, Beam Interactions With Materials and Atoms, 192(4), 420-428. https://doi.org/10.1016/s0168-583x%2802%2900492-5
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