G. Dennler, A. Houdayer, P. Raynaud, Y. Segui et Michael R. Wertheimer
Article de revue (2002)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/26700/ |
| Titre de la revue: | Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B, Beam Interactions With Materials and Atoms (vol. 192, no 4) |
| Maison d'édition: | Elsevier |
| DOI: | 10.1016/s0168-583x(02)00492-5 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1016/s0168-583x%2802%2900492-5 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:20 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:13 |
| Citer en APA 7: | Dennler, G., Houdayer, A., Raynaud, P., Segui, Y., & Wertheimer, M. R. (2002). Characterization by RbS of Hyper-Thin SiO₂ Layers on Various Polymers. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B, Beam Interactions With Materials and Atoms, 192(4), 420-428. https://doi.org/10.1016/s0168-583x%2802%2900492-5 |
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