Capabilities and Limitations of RBS to Characterize Hyper-Thin Silicon Compound Layers on Various Polymeric Substrates

G. Dennler, A. Houdayer, P. Raynaud, Y. Ségui et Michael R. Wertheimer

Chapitre de livre (2002)

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Renseignements supplémentaires:	Metallization of polymers 2. Montréal workshop on Polymer metallization held in Montréal in June 2001.
Département:	Département de génie physique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/38157/
Éditeurs ou éditrices:	Edward Sacher
Maison d'édition:	Springer
DOI:	10.1007/978-1-4615-0563-1_14
URL officielle:	https://doi.org/10.1007/978-1-4615-0563-1_14
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:20
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:32

Citer en APA 7:	Dennler, G., Houdayer, A., Raynaud, P., Ségui, Y., & Wertheimer, M. R. (2002). Capabilities and Limitations of RBS to Characterize Hyper-Thin Silicon Compound Layers on Various Polymeric Substrates. Dans Sacher, E. (édit.), Metallization of Polymers 2 (153-163). https://doi.org/10.1007/978-1-4615-0563-1_14
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