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Ayari, B., & Kaminska, B. (1994). New dynamic test vector compaction for automatic test pattern generation. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 13(3), 353-358. Lien externe
Ben-Hamida, N., Ayari, B., & Kaminska, B. (octobre 1996). Testing of embedded A/D converters in mixed-signal circuit [Communication écrite]. 1996 International Conference on Computer Design, ICCD'96, Austin, TX, USA. Lien externe
Lejmi, S., Kaminska, B., & Ayari, B. (avril 1995). Retiming for BIST-sequential circuits [Communication écrite]. 1995 IEEE International Symposium on Circuits and Systems-ISCAS 95, Seattle, WA, USA. Lien externe
Lejmi, S., Kaminska, B., & Ayari, B. (avril 1995). Retiming, resynthesis, and partitioning for the pseudo-exhaustive testing of sequential circuits [Communication écrite]. 13th IEEE VLSI Test Symposium, Princeton, NJ, USA. Lien externe
Lejmi, S., Kaminska, B., & Ayari, B. (octobre 1995). Synthesis and retiming for the pseudo-exhaustive BIST of synchronous sequential circuits [Communication écrite]. 1995 26th International Test Conference, Washington, DC, USA. Lien externe
Ayari, B. (1996). Génération de vecteurs de test pour les circuits combinatoires, séquentiels et mixtes basée sur le OBDD [Thèse de doctorat, École Polytechnique de Montréal]. Disponible
