Marwan Ammar, Ghaith Bany Hamad, Otmane Aı̈t Mohamed et Yvon Savaria
Chapitre de livre (2019)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/61205/ |
| Éditeurs ou éditrices: | Raoul Velazco, Dale McMorrow et Jaime Estela |
| Titre de la revue: | Springer eBooks |
| Maison d'édition: | Springer Nature |
| DOI: | 10.1007/978-3-030-04660-6_2 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1007/978-3-030-04660-6_2 |
| Date du dépôt: | 17 déc. 2024 12:06 |
| Dernière modification: | 17 déc. 2024 12:06 |
| Citer en APA 7: | Ammar, M., Hamad, G. B., Mohamed, O. A.̈., & Savaria, Y. (2019). System-Level Modeling and Analysis of the Vulnerability of a Processor to Single-Event Upsets (SEUs). Dans Velazco, R., McMorrow, D., & Estela, J. (édit.), Radiation Effects on Integrated Circuits and Systems for Space Applications (p. 13-38). https://doi.org/10.1007/978-3-030-04660-6_2 |
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