Marwan Ammar, Ghaith Bany Hamad, Otmane Aı̈t Mohamed, Yvon Savaria
et Raoul Velazco
Communication écrite (2016)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| ISBN: | 9781509043668 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/39527/ |
| Nom de la conférence: | 16th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS 2016) |
| Lieu de la conférence: | Bremen, Germany |
| Date(s) de la conférence: | 2016-09-19 - 2016-09-23 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/radecs.2016.8093191 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/radecs.2016.8093191 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:03 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 12:22 |
| Citer en APA 7: | Ammar, M., Bany Hamad, G., Mohamed, O. A.̈., Savaria, Y., & Velazco, R. (septembre 2016). Comprehensive vulnerability analysis of systems exposed to SEUs via probabilistic model checking [Communication écrite]. 16th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS 2016), Bremen, Germany (4 pages). https://doi.org/10.1109/radecs.2016.8093191 |
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