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Nuage de motsUn nuage de mots est une représentation visuelle des mots les plus fréquemment utilisés dans un texte ou un ensemble de textes. Les mots apparaissent dans différentes tailles, la taille de chaque mot étant proportionnelle à sa fréquence d'apparition dans le texte. Plus un mot est utilisé fréquemment, plus il apparaît en grand dans le nuage de mots. Cette technique permet de visualiser rapidement les thèmes et les concepts les plus importants d'un texte.
Dans le contexte de cette page, le nuage de mots a été généré à partir des publications de l'auteur {}. Les mots présents dans ce nuage proviennent des titres, résumés et mots-clés des articles et travaux de recherche de cet auteur. En analysant ce nuage de mots, vous pouvez obtenir un aperçu des sujets et des domaines de recherche les plus récurrents et significatifs dans les travaux de cet auteur.Le nuage de mots est un outil utile pour identifier les tendances et les thèmes principaux dans un corpus de textes, facilitant ainsi la compréhension et l'analyse des contenus de manière visuelle et intuitive.
Cicoira, F., Hoffmann, P., Olsson, C. O. A., Xanthopoulos, N., Mathieu, H. J., & Doppelt, P. (2005). Auger electron spectroscopy analysis of high metal content micro-structures grown by electron beam induced deposition. Applied Surface Science, 242(1-2), 107-113. Lien externe
Cicoira, F., Leifer, K., Hoffmann, P., Utke, I., Dwir, B., Laub, D., Buffat, P. A., Kapon, E., & Doppelt, P. (2004). Electron beam induced deposition of rhodium from the precursor [RhCl(PF3)2]2: Morphology, structure and chemical composition. Journal of Crystal Growth, 265(3-4), 619-626. Lien externe
Hoffmann, P., Utke, I., Cicoira, F., Dwir, B., Leifer, K., Kapon, E., & Doppelt, P. (avril 2000). Focused electron beam induced deposition of gold and rhodium [Communication écrite]. Materials Development for Direct Write Technologies (Symposium V), Warrendale, PA, USA. Lien externe
Luisier, A., Utke, I., Bret, T., Cicoira, F., Hauert, R., Rhee, S. W., Doppelt, P., & Hoffmann, P. (2005). Comparative study of cu-precursors for 3D focused electron beam induced deposition. Journal of The Electrochemical Society, 152(9), C590-C593. Lien externe
Ohta, T., Cicoira, F., Doppelt, P., Beitone, L., & Hoffmann, P. (2001). Self-reducible CuII source reagents for the CVD of copper. Chemical Vapor Deposition, 7(1), 28-31. Lien externe
Ohta, T., Cicoira, F., Doppelt, P., Beitone, L., & Hoffmann, P. (2001). Static vapor pressure measurement of low volatility precursors for molecular vapor deposition below ambient temperature. Chemical Vapor Deposition, 7(1), 33-37. Lien externe
Seuret, P., Cicoira, F., Ohta, T., Doppelt, P., Hoffmann, P., Weber, J., & Wesolowski, T. A. (2003). An experimental and theoretical study of [RhCl(PF3)2]2 fragmentation. Physical Chemistry Chemical Physics, 5(2), 268-274. Lien externe
Utke, I., Dwir, B., Leifer, K., Cicoira, F., Doppelt, P., Hoffmann, P., & Kapon, E. (septembre 1999). Electron beam induced deposition of metallic tips and wires for microelectronics applications [Communication écrite]. 25th International Conference on Micro- and Nano-Engineering. Publié dans Microelectronic Engineering, 53(1-4). Lien externe
