Fabio Cicoira
, P. Hoffmann, C. O. A. Olsson, N. Xanthopoulos, H. J. Mathieu et P. Doppelt
Article de revue (2005)
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| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/24267/ |
|---|---|
| Titre de la revue: | Applied Surface Science (vol. 242, no 1-2) |
| Maison d'édition: | Elsevier |
| DOI: | 10.1016/j.apsusc.2004.08.005 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2004.08.005 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:18 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:09 |
| Citer en APA 7: | Cicoira, F., Hoffmann, P., Olsson, C. O. A., Xanthopoulos, N., Mathieu, H. J., & Doppelt, P. (2005). Auger electron spectroscopy analysis of high metal content micro-structures grown by electron beam induced deposition. Applied Surface Science, 242(1-2), 107-113. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2004.08.005 |
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