Fabio Cicoira
, P. Hoffmann, C. O. A. Olsson, N. Xanthopoulos, H. J. Mathieu, P. Doppelt
Article de revue (2005)
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Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
Applied Surface Science
(
vol.
242
,
no
1-2
)
Maison d'édition:
Elsevier
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:24267
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:18
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:58
Citer en APA 7:
Cicoira, F., Hoffmann, P., Olsson, C. O. A., Xanthopoulos, N., Mathieu, H. J., & Doppelt, P. (2005). Auger electron spectroscopy analysis of high metal content micro-structures grown by electron beam induced deposition. Applied Surface Science, 242(1-2), 107-113. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2004.08.005
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