 | Monter d'un niveau |
Réseau de collaborationCe graphique trace les liens entre tous les collaborateurs des publications de {} figurant sur cette page.
Chaque lien représente une collaboration sur la même publication. L'épaisseur du lien représente le nombre de collaborations.
Utilisez la molette de la souris ou les gestes de défilement pour zoomer à l'intérieur du graphique.
Vous pouvez cliquer sur les noeuds et les liens pour les mettre en surbrillance et déplacer les noeuds en les glissant.
Enfoncez la touche "Ctrl" ou la touche "⌘" en cliquant sur les noeuds pour ouvrir la liste des publications de cette personne.
Tremblay, S., Ronaldi, J., Baril, E., Laroche, S., L'Espérance, G., & Baseotto, G. (1997). Système de caractérisation des matériaux intégrés pour les microscopies optiques et électroniques, l'analyse d'images et la spectrométrie EDX. Revue matériaux et techniques (11-12), 57-60. Non disponible
Hovington, P., L'Espérance, G., Baril, E., & Rigaud, M. (1995). Monitoring the performance of energy-dispersive spectrometer detectors at low-energy. Journal of scanning microscopy, 17(3), 136-138. Lien externe
Baril, E., L'Espérance, G., & Boutin, É. Effect of process parameters on inhibition breakdown mechanisms during hot dip galvannealing [Communication écrite]. GALVATECH 1998. Non disponible
Blais, C., L'Espérance, G., Baril, E., & St-Pierre, E. (janvier 1997). Complete characterization of second phase particles using a system integrating SEM, image analysis and EDS [Communication écrite]. IMS-Microstructural science, Seattle, USA. Non disponible
Blais, C., L'Espérance, G., Baril, E., & Forget, C. (août 1996). Characterization of small inclusions: SEM vs TEM, or is it even worth considering SEM [Communication écrite]. Microscopy and microanalysis 1996, Minneapolis, MN (United States). Non disponible
Blais, C., L'Espérance, G., Baril, E., & Forget, C. (août 1995). Estimation of errors resulting from stereological measurements of inclusions characterized by X-ray mapping in SEM [Communication écrite]. Microbeam analysis society 1995, Breckenridge, Colorado, USA. Non disponible
L'Espérance, G., Hovington, P., Baril, E., & Blais, C. (janvier 1994). Procedures and samples to monitor the long term low energy performance of energy-dispersive X-ray spectrometers [Communication écrite]. Réunion conjointe microscopy society of america (52ieme réunion annuelle) et microbeam analysis society (28ieme réunion annuelle), Nouvelle-Orléan, Louisiana, USA. Non disponible
