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Système de caractérisation des matériaux intégrés pour les microscopies optiques et électroniques, l'analyse d'images et la spectrométrie EDX

S. Tremblay, J. Ronaldi, E. Baril, S. Laroche, Gilles L'Espérance and G. Baseotto

Article (1997)

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Additional Information: Nom historique du département: Département de métallurgie et de génie des matériaux
Department: Department of Engineering Physics
PolyPublie URL: https://publications.polymtl.ca/30009/
Journal Title: Revue matériaux et techniques (no. 11-12)
Date Deposited: 18 Apr 2023 15:23
Last Modified: 05 Apr 2024 11:19
Cite in APA 7: Tremblay, S., Ronaldi, J., Baril, E., Laroche, S., L'Espérance, G., & Baseotto, G. (1997). Système de caractérisation des matériaux intégrés pour les microscopies optiques et électroniques, l'analyse d'images et la spectrométrie EDX. Revue matériaux et techniques (11-12), 57-60.

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