S. Tremblay, J. Ronaldi, E. Baril, S. Laroche, Gilles L'Espérance
, G. Baseotto
Article de revue (1997)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de métallurgie et de génie des matériaux
Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
Revue matériaux et techniques
(
no
11-12
)
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:30009
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:23
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:16
Citer en APA 7:
Tremblay, S., Ronaldi, J., Baril, E., Laroche, S., L'Espérance, G., & Baseotto, G. (1997). Système de caractérisation des matériaux intégrés pour les microscopies optiques et électroniques, l'analyse d'images et la spectrométrie EDX. Revue matériaux et techniques (11-12), 57-60.
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