S. Tremblay, J. Ronaldi, E. Baril, S. Laroche, Gilles L'Espérance and G. Baseotto
Article (1997)
This item is not archived in PolyPublie| Additional Information: | Nom historique du département: Département de métallurgie et de génie des matériaux |
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| Department: | Department of Engineering Physics |
| PolyPublie URL: | https://publications.polymtl.ca/30009/ |
| Journal Title: | Revue matériaux et techniques (no. 11-12) |
| Date Deposited: | 18 Apr 2023 15:23 |
| Last Modified: | 25 Sep 2024 16:11 |
| Cite in APA 7: | Tremblay, S., Ronaldi, J., Baril, E., Laroche, S., L'Espérance, G., & Baseotto, G. (1997). Système de caractérisation des matériaux intégrés pour les microscopies optiques et électroniques, l'analyse d'images et la spectrométrie EDX. Revue matériaux et techniques (11-12), 57-60. |
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