S. Tremblay, J. Ronaldi, E. Baril, S. Laroche, Gilles L'Espérance
et G. Baseotto
Article de revue (1997)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de métallurgie et de génie des matériaux |
|---|---|
| Département: | Département de génie physique |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/30009/ |
| Titre de la revue: | Revue matériaux et techniques (no 11-12) |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:23 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:19 |
| Citer en APA 7: | Tremblay, S., Ronaldi, J., Baril, E., Laroche, S., L'Espérance, G., & Baseotto, G. (1997). Système de caractérisation des matériaux intégrés pour les microscopies optiques et électroniques, l'analyse d'images et la spectrométrie EDX. Revue matériaux et techniques (11-12), 57-60. |
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