Estimation of errors resulting from stereological measurements of inclusions characterized by X-ray mapping in SEM

Carl Blais, Gilles L'Espérance, E. Baril, C. Forget

Communication écrite (1995)

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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de métallurgie et de génie des matériaux
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
Microbeam analysis society 1995
Lieu de la conférence:
Breckenridge, Colorado, USA
Date(s) de la conférence:
1995-08-06 - 1995-08-11
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:32552
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:24
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:20
Citer en APA 7:
Blais, C., L'Espérance, G., Baril, E., & Forget, C. (août 1995). Estimation of errors resulting from stereological measurements of inclusions characterized by X-ray mapping in SEM [Communication écrite]. Microbeam analysis society 1995, Breckenridge, Colorado, USA.

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