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Estimation of errors resulting from stereological measurements of inclusions characterized by X-ray mapping in SEM

C. Blais, Gilles L'Espérance, E. Baril et C. Forget

Communication écrite (1995)

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Renseignements supplémentaires: Nom historique du département: Département de métallurgie et de génie des matériaux
Département: Département de génie physique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/32552/
Nom de la conférence: Microbeam analysis society 1995
Lieu de la conférence: Colorado, USA
Date(s) de la conférence: 1995-01-01 - 1995-12-31
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:24
Dernière modification: 05 avr. 2024 11:23
Citer en APA 7: Blais, C., L'Espérance, G., Baril, E., & Forget, C. (janvier 1995). Estimation of errors resulting from stereological measurements of inclusions characterized by X-ray mapping in SEM [Communication écrite]. Microbeam analysis society 1995, Colorado, USA.

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