Documents dont l'auteur est "Baril, E."

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1998

Baril, E., L'Espérance, G., & Boutin, É. Effect of process parameters on inhibition breakdown mechanisms during hot dip galvannealing [Communication écrite]. GALVATECH 1998. Non disponible

1997

Blais, C., L'Espérance, G., Baril, E., & St-Pierre, E. (janvier 1997). Complete characterization of second phase particles using a system integrating SEM, image analysis and EDS [Communication écrite]. IMS-Microstructural science, Seattle, USA. Non disponible

Tremblay, S., Ronaldi, J., Baril, E., Laroche, S., L'Espérance, G., & Baseotto, G. (1997). Système de caractérisation des matériaux intégrés pour les microscopies optiques et électroniques, l'analyse d'images et la spectrométrie EDX. Revue matériaux et techniques (11-12), 57-60. Non disponible

1996

Blais, C., L'Espérance, G., Baril, E., & Forget, C. (août 1996). Characterization of small inclusions: SEM vs TEM, or is it even worth considering SEM [Communication écrite]. Microscopy and microanalysis 1996, Minneapolis, MN (United States). Non disponible

1995

Blais, C., L'Espérance, G., Baril, E., & Forget, C. (août 1995). Estimation of errors resulting from stereological measurements of inclusions characterized by X-ray mapping in SEM [Communication écrite]. Microbeam analysis society 1995, Breckenridge, Colorado, USA. Non disponible

Hovington, P., L'Espérance, G., Baril, E., & Rigaud, M. (1995). Monitoring the performance of energy-dispersive spectrometer detectors at low-energy. Journal of scanning microscopy, 17(3), 136-138. Lien externe

1994

L'Espérance, G., Hovington, P., Baril, E., & Blais, C. (janvier 1994). Procedures and samples to monitor the long term low energy performance of energy-dispersive X-ray spectrometers [Communication écrite]. Réunion conjointe microscopy society of america (52ieme réunion annuelle) et microbeam analysis society (28ieme réunion annuelle), Nouvelle-Orléan, Louisiana, USA. Non disponible