C. Blais, Gilles L'Espérance
, E. Baril, C. Forget
Communication écrite (1996)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de métallurgie et de génie des matériaux
Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
Microscopy and microanalysis 1996
Lieu de la conférence:
Minneapolis, MN (United States)
Date(s) de la conférence:
1996-08-11 - 1996-08-15
Maison d'édition:
San Francisco Press
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:31495
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:24
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:18
Citer en APA 7:
Blais, C., L'Espérance, G., Baril, E., & Forget, C. (août 1996). Characterization of small inclusions: SEM vs TEM, or is it even worth considering SEM [Communication écrite]. Microscopy and microanalysis 1996, Minneapolis, MN (United States).
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