C. Blais, Gilles L'Espérance
, E. Baril et C. Forget
Communication écrite (1996)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de métallurgie et de génie des matériaux |
|---|---|
| Département: | Département de génie physique |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31495/ |
| Nom de la conférence: | Microscopy and microanalysis 1996 |
| Lieu de la conférence: | Minneapolis, MN (United States) |
| Date(s) de la conférence: | 1996-08-11 - 1996-08-15 |
| Maison d'édition: | San Francisco Press |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:21 |
| Citer en APA 7: | Blais, C., L'Espérance, G., Baril, E., & Forget, C. (août 1996). Characterization of small inclusions: SEM vs TEM, or is it even worth considering SEM [Communication écrite]. Microscopy and microanalysis 1996, Minneapolis, MN (United States). |
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