C. Blais, Gilles L'Espérance
, E. Baril, E. St-Pierre
Communication écrite (1997)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de métallurgie et de génie des matériaux
Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IMS-Microstructural science
Lieu de la conférence:
Seattle, USA
Date(s) de la conférence:
1997-01-01 - 1997-12-31
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:30648
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:23
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:17
Citer en APA 7:
Blais, C., L'Espérance, G., Baril, E., & St-Pierre, E. (janvier 1997). Complete characterization of second phase particles using a system integrating SEM, image analysis and EDS [Communication écrite]. IMS-Microstructural science, Seattle, USA.
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