C. Blais, Gilles L'Espérance
, E. Baril et E. St-Pierre
Communication écrite (1997)
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie
| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de métallurgie et de génie des matériaux |
|---|---|
| Département: | Département de génie physique |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/30648/ |
| Nom de la conférence: | IMS-Microstructural science |
| Lieu de la conférence: | Seattle, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1997-01-01 - 1997-12-31 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:23 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:20 |
| Citer en APA 7: | Blais, C., L'Espérance, G., Baril, E., & St-Pierre, E. (janvier 1997). Complete characterization of second phase particles using a system integrating SEM, image analysis and EDS [Communication écrite]. IMS-Microstructural science, Seattle, USA. |
|---|---|
Statistiques
Aucune statistique n'est disponible.
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
