Claude Thibeault, Yvon Savaria
et Jean-Louis Houle
Rapport technique (1990)
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Abstract
Yield modeling -- Yield modeling with EEs assumed statistically independent -- Equivalence between the inclusion/exclusion and the combinatorial approaches -- Equivalence between the inclusion/exclusion principle and modeling assuming independence.
| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/9642/ |
| Numéro du rapport: | EPM-RT-90-11 |
| Date du dépôt: | 22 nov. 2021 16:36 |
| Dernière modification: | 09 avr. 2024 01:27 |
| Citer en APA 7: | Thibeault, C., Savaria, Y., & Houle, J.-L. (1990). Equivalence proofs of some yield modeling methods for defect-tolerant integrated circuits. (Rapport technique n° EPM-RT-90-11). https://publications.polymtl.ca/9642/ |
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