Isa Altoobaji, Ahmad Hassan, Mohamed Ali, Yves Audet
et Ahmed Lakhssassi
Article de revue (2026)
Un lien externe est disponible pour ce document| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Organismes subventionnaires: | Mitacs, Natural Sciences and Engineering Research Council of Canada (NSERC) |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/77290/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Aerospace and Electronic Systems (vol. 62) |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/taes.2026.3689527 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/taes.2026.3689527 |
| Date du dépôt: | 09 juin 2026 15:23 |
| Dernière modification: | 09 juin 2026 15:23 |
| Citer en APA 7: | Altoobaji, I., Hassan, A., Ali, M., Audet, Y., & Lakhssassi, A. (2026). A 150-Mbps Low-Latency Small-Size Fault Digital Isolation System in 180-nm CMOS Process for Aerospace Applications. IEEE Transactions on Aerospace and Electronic Systems, 62, 10305-10313. https://doi.org/10.1109/taes.2026.3689527 |
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