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Génération de tests robustes pour les circuits analogiques linéaires

Abdessatar Abderrahman

Ph.D. thesis (1997)

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Department: Department of Electrical Engineering
PolyPublie URL: https://publications.polymtl.ca/7062/
Institution: École Polytechnique de Montréal
Date Deposited: 04 Aug 2021 11:05
Last Modified: 17 Nov 2022 04:08
Cite in APA 7: Abderrahman, A. (1997). Génération de tests robustes pour les circuits analogiques linéaires [Ph.D. thesis, École Polytechnique de Montréal]. PolyPublie. https://publications.polymtl.ca/7062/

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