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Documents dont l'auteur est "Abderrahman, Abdessatar"

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Abderrahman, A., Cerny, E., & Kamińska, B. (1999). Worst Case Tolerance Analysis and Clp-Based Multifrequency Test Generation for Analog Circuits. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 18(3), 332-345. Lien externe

Abderrahman, A. (1997). Génération de tests robustes pour les circuits analogiques linéaires [Thèse de doctorat, École Polytechnique de Montréal]. Disponible

Abderrahman, A. (1994). Estimation du bruit engendré par la commutation simultanée dans les circuits combinatoires CMOS statiques [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. Non disponible

Liste produite: Wed Jun 17 05:11:43 2026 EDT.