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Génération de tests robustes pour les circuits analogiques linéaires

Abdessatar Abderrahman

Thèse de doctorat (1997)

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Département: Département de génie électrique
Directeurs ou directrices: Bozena Kaminska
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/7062/
Université/École: École Polytechnique de Montréal
Date du dépôt: 04 août 2021 11:05
Dernière modification: 10 oct. 2024 08:50
Citer en APA 7: Abderrahman, A. (1997). Génération de tests robustes pour les circuits analogiques linéaires [Thèse de doctorat, École Polytechnique de Montréal]. PolyPublie. https://publications.polymtl.ca/7062/

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