Sebastian Koelling, Simone Assali, Mahmoud Atalla, Aashish Kumar, Anis Attiaoui, Mario Lodari, Amir Sammak, Giordano Scappucci, Oussama Moutanabbir
Communication écrite (2020)
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Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
SiGe, Ge, and Related Compounds: Materials, Processing, and Devices 9
Lieu de la conférence:
Honolulu, Hawaii, USA
Date(s) de la conférence:
2020-10-04 - 2020-10-09
Titre de la revue
:
ECS Meeting Abstracts
(
vol.
MA2020-02
,
no
24
)
Maison d'édition:
IOP Science
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:52852
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:01
Dernière modification:
08 oct. 2026 18:29
Citer en APA 7:
Koelling, S., Assali, S., Atalla, M., Kumar, A., Attiaoui, A., Lodari, M., Sammak, A., Scappucci, G., & Moutanabbir, O. (octobre 2020). (Invited) Probing Semiconductor Heterostructures from the Atomic to the Micrometer Scale [Communication écrite]. SiGe, Ge, and Related Compounds: Materials, Processing, and Devices 9, Honolulu, Hawaii, USA. Publié dans ECS Meeting Abstracts, MA2020-02(24). https://doi.org/10.1149/ma2020-02241770mtgabs
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