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(Invited) Probing Semiconductor Heterostructures from the Atomic to the Micrometer Scale

Sebastian Koelling, Simone Assali, Mahmoud Atalla, Aashish Kumar, Anis Attiaoui, Mario Lodari, Amir Sammak, Giordano Scappucci et Oussama Moutanabbir

Communication écrite (2020)

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Département: Département de génie physique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/52852/
Nom de la conférence: SiGe, Ge, and Related Compounds: Materials, Processing, and Devices 9
Lieu de la conférence: Honolulu, Hawaii, USA
Date(s) de la conférence: 2020-10-04 - 2020-10-09
Maison d'édition: IOP Science
DOI: 10.1149/ma2020-02241770mtgabs
URL officielle: https://doi.org/10.1149/ma2020-02241770mtgabs
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:01
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:43
Citer en APA 7: Koelling, S., Assali, S., Atalla, M., Kumar, A., Attiaoui, A., Lodari, M., Sammak, A., Scappucci, G., & Moutanabbir, O. (octobre 2020). (Invited) Probing Semiconductor Heterostructures from the Atomic to the Micrometer Scale [Communication écrite]. SiGe, Ge, and Related Compounds: Materials, Processing, and Devices 9, Honolulu, Hawaii, USA. https://doi.org/10.1149/ma2020-02241770mtgabs

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