Probing Semiconductor Heterostructures from the Atomic to the Micrometer Scale

Sebastian Koelling, Simone Assali, Mahmoud Atalla, Aashish Kumar, Anis Attiaoui, Mario Lodari, Amir Sammak, Giordano Scappucci, Oussama Moutanabbir

Communication écrite (2020)

Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
SiGe, Ge, and Related Compounds: Materials, Processing, and Devices (PRiME 2020)
Titre de la revue :
ECS Transactions ( vol. 98 , no 5 )
Maison d'édition:
The Electrochemical Society
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:46812
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:01
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:01
Citer en APA 7:
Koelling, S., Assali, S., Atalla, M., Kumar, A., Attiaoui, A., Lodari, M., Sammak, A., Scappucci, G., & Moutanabbir, O. Probing Semiconductor Heterostructures from the Atomic to the Micrometer Scale [Communication écrite]. SiGe, Ge, and Related Compounds: Materials, Processing, and Devices (PRiME 2020). Publié dans ECS Transactions, 98(5). https://doi.org/10.1149/09805.0447ecst

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document
Afficher document