Sebastian Koelling, Simone Assali, Mahmoud Atalla, Aashish Kumar, Anis Attiaoui, Mario Lodari, Amir Sammak, Giordano Scappucci et Oussama Moutanabbir
Communication écrite (2020)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie physique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/46812/ |
Nom de la conférence: | SiGe, Ge, and Related Compounds: Materials, Processing, and Devices (PRiME 2020) |
Titre de la revue: | ECS Transactions (vol. 98, no 5) |
Maison d'édition: | The Electrochemical Society |
DOI: | 10.1149/09805.0447ecst |
URL officielle: | https://doi.org/10.1149/09805.0447ecst |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:01 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:35 |
Citer en APA 7: | Koelling, S., Assali, S., Atalla, M., Kumar, A., Attiaoui, A., Lodari, M., Sammak, A., Scappucci, G., & Moutanabbir, O. Probing Semiconductor Heterostructures from the Atomic to the Micrometer Scale [Communication écrite]. SiGe, Ge, and Related Compounds: Materials, Processing, and Devices (PRiME 2020). Publié dans ECS Transactions, 98(5). https://doi.org/10.1149/09805.0447ecst |
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