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Probing Semiconductor Heterostructures from the Atomic to the Micrometer Scale

Sebastian Koelling, Simone Assali, Mahmoud Atalla, Aashish Kumar, Anis Attiaoui, Mario Lodari, Amir Sammak, Giordano Scappucci et Oussama Moutanabbir

Communication écrite (2020)

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Département: Département de génie physique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/46812/
Nom de la conférence: SiGe, Ge, and Related Compounds: Materials, Processing, and Devices (PRiME 2020)
Titre de la revue: ECS Transactions (vol. 98, no 5)
Maison d'édition: The Electrochemical Society
DOI: 10.1149/09805.0447ecst
URL officielle: https://doi.org/10.1149/09805.0447ecst
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:01
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:35
Citer en APA 7: Koelling, S., Assali, S., Atalla, M., Kumar, A., Attiaoui, A., Lodari, M., Sammak, A., Scappucci, G., & Moutanabbir, O. Probing Semiconductor Heterostructures from the Atomic to the Micrometer Scale [Communication écrite]. SiGe, Ge, and Related Compounds: Materials, Processing, and Devices (PRiME 2020). Publié dans ECS Transactions, 98(5). https://doi.org/10.1149/09805.0447ecst

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