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Towards an Accurate Probabilistic Modeling and Statistical Analysis of Temporal Faults via Temporal Dynamic Fault-trees (TDFTs)

Marwan Ammar, Ghaith Bany Hamad, Otmane Ait Mohamed et Yvon Savaria

Article de revue (2019)

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Département: Département de génie électrique
Centre de recherche: GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/43061/
Titre de la revue: IEEE Access (vol. 7)
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.1109/access.2019.2902796
URL officielle: https://doi.org/10.1109/access.2019.2902796
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:01
Dernière modification: 05 mai 2023 15:47
Citer en APA 7: Ammar, M., Hamad, G. B., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (2019). Towards an Accurate Probabilistic Modeling and Statistical Analysis of Temporal Faults via Temporal Dynamic Fault-trees (TDFTs). IEEE Access, 7, 29264-29276. https://doi.org/10.1109/access.2019.2902796

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