Towards an Accurate Probabilistic Modeling and Statistical Analysis of Temporal Faults via Temporal Dynamic Fault-trees (TDFTs)

Marwan Ammar, Ghaith Bany Hamad, Otmane Ait Mohamed, Yvon Savaria

Article de revue (2019)

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Département:
Département de génie électrique
Unité de recherche:
GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/43061/
Titre de la revue :
IEEE Access ( vol. 7 )
Maison d'édition:
IEEE
DOI:
10.1109/access.2019.2902796
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/access.2019.2902796
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:43061
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:01
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:54
Citer en APA 7:
Ammar, M., Bany Hamad, G., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (2019). Towards an Accurate Probabilistic Modeling and Statistical Analysis of Temporal Faults via Temporal Dynamic Fault-trees (TDFTs). IEEE Access, 7, 29264-29276. https://doi.org/10.1109/access.2019.2902796

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