Marwan Ammar, Ghaith Bany Hamad, Otmane Ait Mohamed et Yvon Savaria
Article de revue (2019)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/43061/ |
| Titre de la revue: | IEEE Access (vol. 7) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/access.2019.2902796 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/access.2019.2902796 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:01 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 07:07 |
| Citer en APA 7: | Ammar, M., Bany Hamad, G., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (2019). Towards an Accurate Probabilistic Modeling and Statistical Analysis of Temporal Faults via Temporal Dynamic Fault-trees (TDFTs). IEEE Access, 7, 29264-29276. https://doi.org/10.1109/access.2019.2902796 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
