Marwan Ammar, Ghaith Bany Hamad, Otmane Ait Mohamed et Yvon Savaria
Communication écrite (2018)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/42763/ |
| Nom de la conférence: | 25th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2018) |
| Lieu de la conférence: | Bordeaux, France |
| Date(s) de la conférence: | 2018-12-09 - 2018-12-12 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/icecs.2018.8617845 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/icecs.2018.8617845 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:02 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:29 |
| Citer en APA 7: | Ammar, M., Bany Hamad, G., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (décembre 2018). Reliability Analysis of the SPARC V8 Architecture via Fault Trees and UPPAL-SMC [Communication écrite]. 25th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2018), Bordeaux, France. https://doi.org/10.1109/icecs.2018.8617845 |
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