Ghaith Bany Hamad, Ghaith Kazma, Otmane Ait Mohamed et Yvon Savaria
Communication écrite (2017)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/38639/ |
| Nom de la conférence: | 23rd IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2017) |
| Lieu de la conférence: | Thessaloniki, Greece |
| Date(s) de la conférence: | 2017-07-03 - 2017-07-05 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/iolts.2017.8046195 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/iolts.2017.8046195 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:04 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:23 |
| Citer en APA 7: | Bany Hamad, G., Kazma, G., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (juillet 2017). Comprehensive analysis of sequential circuits vulnerability to transient faults using SMT [Communication écrite]. 23rd IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2017), Thessaloniki, Greece. https://doi.org/10.1109/iolts.2017.8046195 |
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