System-Level Analysis of the Vulnerability of Processors Exposed to Single Event Upsets via Probabilistic Model Checking

Marwan Ammar, Ghaith Bany Hamad, Otmane Ait Mohamed, Yvon Savaria

Article de revue (2017)

Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Voir chez l'éditeur officiel
Département:
Département de génie électrique
Unité de recherche:
GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/38595/
Titre de la revue :
IEEE Transactions on Nuclear Science ( vol. 64 , no 9 )
Maison d'édition:
IEEE
DOI:
10.1109/tns.2017.2736061
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/tns.2017.2736061
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:38595
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:03
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:30
Citer en APA 7:
Ammar, M., Bany Hamad, G., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (2017). System-Level Analysis of the Vulnerability of Processors Exposed to Single Event Upsets via Probabilistic Model Checking. IEEE Transactions on Nuclear Science, 64(9), 2523-2530. https://doi.org/10.1109/tns.2017.2736061

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document
Afficher document