Marwan Ammar, Ghaith Bany Hamad, Otmane Ait Mohamed et Yvon Savaria
Article de revue (2017)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/38595/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Nuclear Science (vol. 64, no 9) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/tns.2017.2736061 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tns.2017.2736061 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:03 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 07:01 |
| Citer en APA 7: | Ammar, M., Bany Hamad, G., Mohamed, O. A., & Savaria, Y. (2017). System-Level Analysis of the Vulnerability of Processors Exposed to Single Event Upsets via Probabilistic Model Checking. IEEE Transactions on Nuclear Science, 64(9), 2523-2530. https://doi.org/10.1109/tns.2017.2736061 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
